一、基本情况
兰馗博,研究生,助理工程师,中共党员。
主要从事微电子金属薄膜及介质层薄膜的制备和表征;一维导电材料碳纳米管的制备以及电学特性的改善;芯片的失效分析等相关研究。作为参与人完成了国家自然科学基金2项(极大规模集成电路碳纳米管互连基础及关键工艺研究,项目编号:60806030;碳纳米管电极交叉阵列阻变存储单元构建及开关特性研究,项目编号:61274113),天津市科技计划重点项目1项(定向碳纳米管电路垂直互连集成技术研究,项目编号:10SYSYJC27700)。主持天津大学实验室建设与管理改革项目1项(微电子工艺实验技术的研究与开发)。
 

二、工作经历
2014 至2015年 飞思卡尔半导体(中国)有限责任公司,芯片失效分析实验室,失效分析工程师。
2015至今 天津大学,微电子学院,实验教师。

三、研究领域
微电子工艺、芯片的失效分析

四、讲授课程
微电子学基础实验、微电子与固体电子基础实验、微电子工艺实习

五、代表学术成果
[1] Lan Kuibo, Tian Li, Zhang Kailiang, Wang Fang, Ren Jun, Liu Yuhang and
Feng Yuling.Improvement of Electronic Characteristic for Vertical CNT Via
Interconnection By Focused Ion Beam.Electrochemical Society Transactions,2013,52(1):641—645.
[2] Tian Li, Lan Kuibo, Wen Gaojie, Wu Miao, Wu Chunlei, Fan Diwei and
Wang Dong.A Novel Optical Structure of Numerical Aperture IncreasingLens(NAIL) for Resolution Improvement in Backside Failure Analysis.IPFA,2013:501-503.

六、联系方式
办公地址:天津大学 微电子学院 26教学楼D区615室
通信地址:天津市南开区卫津路92号,邮政编码:300072
办公电话:13821895951
电子邮箱:kuibo.lan@tju.edu.cn